產(chǎn)品展示
PRODUCT DISPLAY
技術(shù)支持您現(xiàn)在的位置：首頁 > 技術(shù)支持 > 激光粒度分析儀的遮光比數(shù)值的選擇
激光粒度分析儀的遮光比數(shù)值的選擇
發(fā)布日期：2018-10-27 瀏覽次數(shù)：2294
激光粒度分析儀的遮光比數(shù)值的選擇
激光粒度分析技術(shù)就是一種既可以測定顆粒物濃度又可以測定粒度分布(粒度組成)的現(xiàn)代技術(shù)。該技術(shù)采用MIE氏散射原理，通過檢測顆粒物的散射譜分析粒度組成，他的突出優(yōu)點是不接觸測量，速度快，重復性好，可以動態(tài)測量。
在線激光粒度儀就是針對生產(chǎn)現(xiàn)場的實際需要，發(fā)展起來的一種實時粒度分析手段，它具有實時性，連續(xù)性，抗電磁、高溫、粉塵、震動、腐蝕性干擾能力，為控制系統(tǒng)提供的控制信號，真正實現(xiàn)生產(chǎn)自動化、監(jiān)測科學化。
激光粒度分析儀的使用過程中，對于使用者來說，如何選取儀器的遮光比對于提升儀器度是很有影響的，所謂的遮光比就是在使用納米激光粒度儀測試樣品時，配置的樣品懸浮液的濃度，遮光比的正確選擇是激光粒度儀在粒度測試過程中的重要的步驟，遮光比是否合適或者說被測樣品的濃度是否合適嚴重關(guān)系到粒度測量結(jié)果的性和代表性。
激光粒度分析儀的測量原理要求在測試過程中，樣品的濃度以樣品中顆粒之間相互不發(fā)生二次散射為原則，理論上就是要求懸浮液或者空氣中顆粒之間的距離為顆粒直徑的3倍,但是這個要求非常難以掌握，因此在實際的粒度測試中，通過調(diào)整遮光比的數(shù)值來盡量顆粒之間不發(fā)生二次散射。遮光比不宜過大(超過50%)或者過小(低于5%)，遮光比過大時，顆粒的濃度過高，容易發(fā)生二次散射，測量結(jié)果誤差增大;遮光比過低，樣品中顆粒的濃度太低，顆粒數(shù)太少，測試結(jié)果的代表性很差，甚至可能導致測試結(jié)果是無效的，因此在測試過程中，對遮光比的選取要通過反復試驗，以得到正確的測量結(jié)果。
一般來說，對于比較粗的樣品，遮光比可以選擇的比較高，如20~30%，正常情況可以為10~25%;對于超細的樣品，可以適當降低樣品的遮光比，但一般不要超過40%，這些都是實驗得到的經(jīng)驗數(shù)值，但終還需通過反復實驗，找到對應(yīng)樣品測試時遮光比的佳數(shù)值。
